dot dot
dot
ค้นหางานบริการ และสินค้า


  [Help]
dot
dot
สมาชิก รับส่วนลดค่าบริการพิเศษ ** สมัครฟรี **
อีเมล:
รหัสผ่าน:
เข้าสู่ระบบอัตโนมัติ :
bullet ลืมรหัสผ่าน
bullet สมัครสมาชิก
dot
dot
ตะกร้าเช็คอัตราค่าบริการ/สินค้า
dot
จำนวน : 0 ชิ้น
ราคา : 0.00บาท
bullet ดูสินค้า
bullet ชำระเงิน
dot
หมวดหมู่งานบริการ/สินค้า
dot
SEM Service ค่าบริการใช้เครื่อง SEM/ชม.
EDS Service ค่าบริการใช้เครื่อง EDS
SemAfore Service ค่าบริการใช้เครื่อง SemAfore
Sputter Coater Service ค่าบริการใช้เครื่องฉาบเคลือบทอง
Data, ภาพ, ค่าบริการ บันทึกข้อมูลลงแผ่น
dot
รวมลิงค์เพื่อนบ้าน
dot
bulletเว็บไซต์ผู้ผลิต SEM ( JEOL )
bulletเว็บไซต์ผู้ผลิต EDS (Oxford)
bulletเครื่องมือวิทยาศาสตร์
bulletFacebook จุลทรรศน์อิเล็กฯ
bulletFacebook Do SEM
bulletOknation blog Do SEM
bulletTwitter Do SEM
bulletBlogspot Do SEM
bulletWordpress Do SEM
bulletBloggang Do SEM
bulletExteen Do SEM
bulletGoogle page Do SEM
dot
สมัครรับข่าวสาร

dot
bulletสถานะการเช็คค่าบริการ,สั่งซื้อ


บริการกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคป 24 ชั่วโมง
ดูเซ็มกัน บริการ 24 ชั่วโมง รับชำระค่าบริการด้วยบัตร เครดิต และบัตรเดบิต
สนใจลงโฆษณา กล้องจุลทรรศน์ไมโครสโคปกับ มาดูเซ็มกัน บริการ 24 ชั่วโมง
ลงโฆษณากล้อง SEM,FE-SEM,EDS,EDX,SPUTTER COATER


การวิเคราะห์ความเสียหายวัสดุและอุปกรณ์ไฟฟ้าอิเล็กทรอนิกส์

 

การวิเคราะห์ความเสียหายวัสดุและอุปกรณ์ ในวงการอิเล็กทรอนิกส์ เซมิคอนดักเตอร์ ฮาร์ดดิสก์ ไฟฟ้า และคอมพิวเตอร์

ด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปแบบส่องกราด SEM และเครื่องวิเคราะห์ธาตุเชิงปริมาณและเชิงคุณภาพ EDS,EDX เช่นการวิเคราะห์ไอซี IC ,PCB ลายวงจร ลายปริ้น,TR ทรานซิสเตอร์ ,เซมิคอนดักเตอร์,ฮาร์ดดิสก์ และอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์และไฟฟ้าต่างๆ

ทำไมต้อง ด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปแบบส่องกราด SEM และเครื่องวิเคราะห์ธาตุเชิงปริมาณและเชิงคุณภาพ EDS,EDX

เนื่องจากปัจจุบันเป็นยุคนาโนเทคโนโลยี อุปกรณ์ที่เกี่ยวข้องกับอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ต่างๆมีขนาดเล็กลง และเล็กลงเรื่อยๆ ดูได้จากทีวี มือถือ วิทยุ เครื่องเสียง ฮาร์ดดิสก์ คอมพิวเตอร์ จะมีขนาดเล็กและเบาขึ้น สาเหตุที่เล็กลงเรื่อยเป็นเพราะผู้ผลิต มีการพัฒนาเครื่องจักรหรือเครื่องผลิต ผลิตอุปกรณ์ที่เป็นชิพ Chip ให้มีขนาดเล็กลงในระดับนาโน และกำลังพัฒนาเป็นพิโคเทคโนโลยีซึ่งจะเล็กมากกว่า นาโนเทคโนโลยีมากๆ การที่ผู้ผลิตสามารถผลิตอุปกรณ์ ให้ขนาดเล็กลงได้นั้น หมายถึงเขาก็จะใช้วัตถุดิบลดลง หรือใช้เท่าเดิมแต่ผลิตได้เยอะกว่าเดิม 2-10 เท่าตัวได้เลยค่ะ

จากเดิมใช้แค่กล้องจุลทรรศน์ไมโครสโคป แบบใช้ตาส่องดูก็สามารถมองเห็น แต่เมื่ออุปกรณ์มีขนาดเล็กลง แสดงว่าชิพ Chip ขนาดจะเล็กลงมากๆ ก็จะใช้กล้องแบบเดิมไม่ได้ ต้องหันมาใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปแทน กำลังขยายก็มากกว่า และข้อดียังสามารถวิเคราะห์ธาตุได้ด้วย (เพื่อFailure analysis)

การใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปประเภทนี้เช่น การดูหัวอ่านหัวเขียนของฮาร์ดดิสก์ ที่กำลังขยาย 50000 เท่า หรือแสนเท่าขึ้นไป, การดูลายปริ้น PCB, ดูรอยการเชื่อมตะกั่วระหว่างอุปกรณ์กับ PCB, การเข้าหัว Bond,การดูฝุ่น หรือสิ่งสกปรกในอุปกรณ์,การโด้ปปิ่ง ,การดูหน้าสัมผัสอุปกรณ์ประเภทรีเลย์ Relay,Magnetic,สวิทช์ และอื่นๆ

 

 

แล้วกรณีเครื่องวิเคราะห์ธาตุ EDS,EDX จะเอาไปใช้ตอนใหนละ ก็แล้วแต่กรณีละค่ะ เช่นการดูและวิเคราะห์ธาตุคราบสกปรกและฝุ่นบนแผ่น Wafer,harddisk,Switch และดูองค์ประกอบสารของวัสดุนั้นๆ ใช้ด้าน Failure analysis,R&D,QC และอื่นๆ

 

เรามาดูตัวอย่างไอซี IC integrated circuit ที่มีปัญหานำมาดูด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคป SEM กันค่ะ ตามภาพคือไอซี IC integrated circuit ที่ปกติค่ะ แบบ 14 ขา

 

 

 

และลักษณะโครงสร้างภายในของ ไอซี IC integrated circuit ตามภาพ บริเวณพื้นที่สีฟ้าคือ บริเวณที่เป็นชิพ Chip ทำจากซิลิกอน Si

 

 

.." วงจรรวม หรือ วงจรเบ็ดเสร็จ (อังกฤษ: integrated circuit ; IC) หมายถึง วงจรที่นำเอาไดโอด, ทรานซิสเตอร์, ตัวต้านทาน, ตัวเก็บประจุ และองค์ประกอบวงจรต่าง ๆ มาประกอบรวมกันบนแผ่นวงจรขนาดเล็ก ในปัจจุบันแผ่นวงจรนี้จะทำด้วยแผ่นซิลิคอน บางทีอาจเรียก ชิป (Chip) และสร้างองค์ประกอบวงจรต่าง ๆ ฝังอยู่บนแผ่นผลึกนี้ ส่วนใหญ่เป็นชนิดที่เรียกว่า Monolithic การสร้างองค์ประกอบวงจรบนผิวผลึกนี้ จะใช้กรรมวิธีทางด้านการถ่ายภาพอย่างละเอียด ผสมกับขบวนการทางเคมีทำให้ลายวงจรมีความละเอียดสูงมาก สามารถบรรจุองค์ประกอบวงจรได้จำนวนมาก ภายในไอซี จะมีส่วนของลอจิกมากมาย ในบรรดาวงจรเบ็ดเสร็จที่ซับซ้อนสูง เช่น ไมโครโปรเซสเซอร์ ซึ่งใช้ทำงานควบคุม คอมพิวเตอร์ จนถึงโทรศัพท์มือถือ แม้กระทั่งเตาอบไมโครเวฟแบบดิจิทัล สำหรับชิปหน่วยความจำ (RAM) เป็นอีกประเภทหนึ่งของวงจรเบ็ดเสร็จ ที่มีความสำคัญมากในยุคปัจจุบัน

ที่มา : จากวิกิพีเดีย สารานุกรมเสรี "..

ตามภาพเป็นการเปิดส่วนที่เป็น พลาสติกเคส ออกแล้วมองเห็นบริเวณที่เป็นชิพ Chip ลักษณะสี่เหลี่ยมจัตุรัส ขนาดถ้าเทียบตามสเกล 500 um ไมครอน (0.5 mm. มิลลิเมตร) ขนาดของชิพก็จะประมาณ 1.25 x 1.25 mm.

ตามภาพด้านบนชิพ ที่เปิดจะมองเห็นหัวบอนด์ Bond 2จุดแต่สาย wiring ขาด จำนวนหัวบอนด์ส่วนใหญ่จะเท่ากับจำนวน ขาใช้งานของไอซี และด้านล่างหัวบอนด์จะเป็นวงจร Circuit และวงจรที่นำเอาไดโอด, ทรานซิสเตอร์, ตัวต้านทาน, ตัวเก็บประจุ และองค์ประกอบวงจรต่าง ๆ มาประกอบรวมกันบนแผ่นวงจร

ภาพนี้ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEM 20kv (กิโลโวลท์) กำลังขยาย x50 เท่า สเกล 500um(ไมครอน) หรือ 0.5 mm.(มิลลิเมตร) High vacuum mode ภาพแบบ SEI

 

 

ตามภาพคือ วงจรที่นำเอาไดโอด, ทรานซิสเตอร์, ตัวต้านทาน, ตัวเก็บประจุ และองค์ประกอบวงจรต่าง ๆ มาประกอบรวมกันบนแผ่นวงจร

ภาพนี้ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEM 20kv (กิโลโวลท์) กำลังขยาย x 750 เท่า สเกล 10um(ไมครอน) หรือ 0.01 mm.(มิลลิเมตร) High vacuum mode ภาพแบบ SEI

 

 

ตามภาพคือ หัวบอนด์ Bond 2จุดแต่สาย wiring ขาด

ภาพนี้ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEM 20kv (กิโลโวลท์) กำลังขยาย x500 เท่า สเกล 50um(ไมครอน) หรือ 0.05 mm.(มิลลิเมตร) High vacuum mode ภาพแบบ SEI

 

 

ตามภาพคือ หัวบอนด์ Bond แต่สาย wiring ขาด

ภาพนี้ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEM 20kv (กิโลโวลท์) กำลังขยาย x 1000 เท่า สเกล 10um(ไมครอน) หรือ 0.01 mm.(มิลลิเมตร) High vacuum mode ภาพแบบ SEI

 

 

ภาพโดยรวมของ IC : integrated circuit

แบบแรกที่เราถ่าย เราต้องเปิดเคสพลาสติกหรือเรซิน ของตัวไอซีออก ตัวอย่างถ่ายแบบสูญญากาศสูง ทำให้ต้องฉาบเคลือบตัวอย่าง ด้วยทองก่อน แต่ลักษณะตัวอย่างแบบนี้ไม่ต้องฉาบเคลือบทองได้ แต่ต้องถ่ายแบบสูญญากาศต่ำหรือ Low vacuum mode แทน

มีอีกหนึ่งลักษณะที่ไม่จำเป็นต้องฉาบเคลือบทอง เพื่อต้องการไม่ทำลายตัวอย่าง และถ่ายเสร็จสามารถนำตัวอย่างไปวิเคราะห์ต่อ หรือนำไปใช้งานต่อได้ ลักษณะที่ว่าก็คือนำตัวอย่างที่ว่ามาถ่ายด้วยโหมด Low vacuum นั้นเอง ภาพที่ได้จะเป็นภาพ BEI COMPO หรือ BEI TOPO

ตัวอย่างที่เราจะนำมาวิเคราะห์แบบนี้คือ RAM ที่ใช้สำหรับ Note book

 

เราจะมาศึกษารอยบัดกรี ลายปริ้น และคราบสกปรกบริเวณที่บัดกรีไม่ติด ด้วยเครื่องวิเคราะห์ธาตุต่อได้

 

ตามภาพคือ อุปกรณ์ที่อยู่ PCB ที่ประกอบเป็น RAM

ภาพนี้ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEM 20kv (กิโลโวลท์) กำลังขยาย x50 เท่า สเกล 500um(ไมครอน) หรือ 0.5 mm.(มิลลิเมตร) Low vacuum mode ภาพแบบ BEI COMPO

 

ตามภาพคือ อุปกรณ์ที่อยู่ PCB ที่ประกอบเป็น RAM

ภาพนี้ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEM 20kv (กิโลโวลท์) กำลังขยาย x 75 เท่า สเกล 100um(ไมครอน) หรือ 0.1 mm.(มิลลิเมตร) Low vacuum mode ภาพแบบ BEI COMPO

 

ตามภาพคือ อุปกรณ์ที่อยู่ PCB ที่ประกอบเป็น RAM

ภาพนี้ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEM 20kv (กิโลโวลท์) กำลังขยาย x 35 เท่า สเกล 500um(ไมครอน) หรือ 0.5 mm.(มิลลิเมตร) Low vacuum mode ภาพแบบ BEI COMPO

 

ตามภาพคือ อุปกรณ์ที่อยู่ PCB ที่ประกอบเป็น RAM

ภาพนี้ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEM 20kv (กิโลโวลท์) กำลังขยาย x 150 เท่า สเกล 100um(ไมครอน) หรือ 0.1 mm.(มิลลิเมตร) Low vacuum mode ภาพแบบ BEI COMPO

 

 

ตามภาพคือ อุปกรณ์ที่อยู่ PCB ที่ประกอบเป็น RAM เพื่อศึกษารอยบัดกรี

ภาพนี้ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEM 20kv (กิโลโวลท์) กำลังขยาย x 50 เท่า สเกล 500 (ไมครอน) หรือ 0.5mm.(มิลลิเมตร) Low vacuum mode ภาพแบบ BEI COMPO

 

ตามภาพคือ อุปกรณ์ที่อยู่ PCB ที่ประกอบเป็น RAM เพื่อศึกษารอยบัดกรี

ภาพนี้ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEM 20kv (กิโลโวลท์) กำลังขยาย x 150 เท่า สเกล 100 ไมครอน หรือ 0.1 mm.มิลลิเมตร) Low vacuum mode ภาพแบบ BEI COMPO

 

ตามภาพคือ อุปกรณ์ที่อยู่ PCB ที่ประกอบเป็น RAM เพื่อศึกษารอยบัดกรี

ภาพนี้ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEM 20kv (กิโลโวลท์) กำลังขยาย x 1000เท่า สเกล 10 ไมครอน หรือ 0.01 mm. (มิลลิเมตร) Low vacuum mode ภาพแบบ BEI COMPO

 

 

ข้อดีถ่ายภาพแบบนี้ จะไม่เป็นการทำลายตัวอย่าง เตรียมตัวอย่างหรืองานที่จะถ่ายไม่ยาก แต่ภาพที่ได้จะเป็นแบบ BEI ที่ความคมชัด จะด้อยกว่าแบบ SEI

RAM ที่นำมาทดสอบ สามารถนำไปใช้งานต่อได้อีกค่ะ

เครื่องมือกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปแบบส่องกราด SEM และเครื่องวิเคราะห์ธาตุเชิงปริมาณและเชิงคุณภาพ EDS,EDX ที่ใช้วิเคราะห์ความเสียหายวัสดุ ในวงการอิเล็กทรอนิกส์ เซมิคอนดักเตอร์ ฮาร์ดดิสก์ ไฟฟ้า ในเมืองไทยใช้กันอย่างแพร่หลาย และบริษัทใหญ่ๆ ก็ใช้เครื่องมือประเภทนี้แทบทุกบริษัท ใช้เพื่องาน Failure analysis,FA,QC,R&D เพื่อพัฒนา ตรวจสอบผลิตภัณฑ์ของตัวเอง และคู่ค้าในทางธุรกิจ

ในต่างประเทศ เช่นประเทศญี่ปุ่นจะมีเครื่องมือประเภทนี้ อยู่ในหลักสูตรการเรียนการสอน ในหลายๆสาขาที่เกี่ยวข้อง ใช้อย่างแพร่หลาย ในญี่ปุ่นมีเครื่องมือประเภทนี้หลายพันเกือบหมื่นเครื่อง แต่ในเมืองไทยมีเครื่องนี้ประมาณ 400 - 500 เครื่องเท่านั้นเอง และที่สำคัญเครื่องที่อยู่ในสถาบันการศึกษาเพียง 20% ของเครื่องที่มีทั้งหมดในประเทศ แต่พร้อมใช้งานไม่กี่สิบเครื่อง ส่วนเอกชนที่ผ่านโดยน้ำท่วมไปหลายสิบเครื่องเช่นกัน

ส่วนตัวผู้เขียนเจอเครื่องนี้เมื่อตอนเรียนวิศวะ อาจารย์แนะนำให้รู้จักหน้าตาเครื่อง การใช้งานแค่ 10 นาทีเท่านั้น น่าเสียดายซื้อเครื่องมือมาหลายสิบล้านแต่ใช้งานได้แค่ 2 ปีหลังจากนั้นใช้ไม่ได้มาตลอด ผู้เขียนมาเจอเครื่องแบบนี้และศึกษาอีกที เมื่อเรียนจบและทำงานแล้ว

อยากเห็นเครื่องไม้เครื่องมือ ตามหน่วยงานราชการ ใช้งานได้หลายสิบปี ตามราคาหลายสิบล้าน เหมือนเครื่องที่ผู้เขียนดูแลอยู่ค่ะ

 

********************************************************************* 
 

บทความน่าสนใจอื่นๆ

สถานที่ให้และรับบริการ SEM,EDS : ใกล้ฟิวเจอร์รังสิต และดรีมเวิลด์

Do SEM บริการเครื่อง SEM กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคป แบบส่องกราด

บทความน่าสนใจอื่นๆ มากกว่า 100 บทความ คลิกลิงค์ข้างล่างค่ะ

 ##############################################################################




ภาพถ่ายสวยๆ ภาพแปลกๆ บทความดีๆ จากกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคป กำลังขยายสูง SEM,EDS

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนกำลังขยายสูง 3.5 nm. พร้อมเครื่องวิเคราะห์ธาตุ article
Do SEM พร้อมให้บริการ SEM, EDS, EDX (EDAX), SemAfore, Sputter Coater article
วิเคราะห์ธาตุเชิงปริมาณ เชิงคุณภาพด้วย EDS,EDX
เทคนิคการวิเคราะห์ธาตุด้วย EDS หรือ EDX, WDX หรือ WDS, และ EPMA แบบใหนดีกว่ากัน article
Quant mapping,speed mapping,mapping,eds mapping,edx map,x-ray mapping,วิเคราะห์ธาตุแบบ mapping
การวิเคราะห์ธาตุ ตามแนวกำหนดเส้นส่องกราดแบบ Linescan ,Speed linescan,Quant Linescan
วิเคราะห์ตำหนิตัวถังรถยนต์ ตัวถังมอเตอร์ไซด์
รังแค drandraft
วิเคราะห์เหรียญกษาปณ์ต่างประเทศ Australia Coin
เชื้อรา,รา
ปะการัง Coral
Concrete คอนกรีต
ภาพตัดขวางของเมมเบรน Membrane cross section
มองยุง ผ่านกล้องจุลทรรศน์กำลังขยายสูง
วิเคราะห์เขม่าดินปืน ด้วยเทคนิค SEM,EDS/EDX
แพลงก์ตอน plankton
ภาพตัดขวางของเส้นผม Hair Cross Section
ปีกผีเสื้อ Butterfly
วิเคราะห์เหรียญกษาปณ์ เหรียญ 25,50 สตางค์ 1,2,5 บาท
น้ำตาลทราย (Granulated Sugar) article
Pollen ละอองเกสร เรณู ดอกไม้ ดอกพืช
วิเคราะห์เหรียญกษาปณ์ เหรียญสิบบาท
เกลือ,เกลือสมุทร,เกลือทะเล,วิเคราะห์เกลือ,ทดสอบเกลือ,salt analysis,salt,NaCl,โซเดียมครอไรด์
มอสส์ Moss ความมหัศจรรย์ต้นมอสส์จากกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ
วิเคราะห์ความเสียหายสายไฟทองแดง copper wire วิเคราะห์รอยสปาร์ค รอยไหม้ และออกไซด์
เกลือสินเธาว์ เกลือธรรมชาติ
สอบเทียบธาตุมาตรฐานเชิงปริมาณ Quant Calibration,Quant Optimization
สกรู Screw วิเคราะห์ความเสียหายของวัสดุ ด้วยเครื่อง SEM/EDS
วิเคราะห์ผ้าเบรค Brake Pad Analysis ด้วยเครื่อง SEM,EDS แบบไม่ทำลายตัวอย่าง
วิเคราะห์ลายปริ้น แผ่น PCB, Flux และคราบสกปรกบนชิ้นส่วนไฟฟ้าอิเล็กทรอนิกส์
สาละ สาละลังกา สาละอินเดีย หรือ ลูกปืนใหญ่ (Cannonball,Sal Tree)
Failure Analysis วิเคราะห์ความเสียหายของวัสดุ ด้วยเครื่อง SEM,EDS
มด,มดคันไฟ ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯกำลังขยายสูง SEM
เห็บหมัด, Tick,bush tick, cattle tick,paralysis tick
ปูนซีเมนต์ Cement วิเคราะห์ทางกายภาพและองค์ประกอบเคมีด้วยเครื่อง SEMและ EDS/EDX
กระดาษ เยื้อกระดาษ วิเคราะห์ด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEM และ EDS
Detector cool down สำหรับ OXFORD EDS
ภาพถ่ายกำลังขยายสูง กับกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคป แบบส่องกราด SEM
Detector warm up สำหรับ OXFORD EDS
EDS ,EDX resolution check มาเช็คสุขภาพเครื่องวิเคราะห์ธาตุ EDS,EDX กัน
มหัศจรรย์หนอนผีเสื้อ" วงศ์ Tineidae " ผ่านกล้องจุลทรรศน์ article
CAMEO เทคนิคการวิเคราะห์เฟสของวัสดุ เชิงคุณภาพด้วยเครื่อง EDS article
ภาพจากกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปแบบส่องกราด
ส้มจิ๊ด ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์ฯ SEM และวิเคราะห์ธาตุด้วย EDS,EDX
แผล,สะเก็ดแผล ภาพถ่ายสะเก็ดแผลด้วยเครื่อง SEM
วิเคราะห์อิฐมวลเบา อิฐเบา อิฐขาว ด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEMและ EDS/EDX
แป้งเด็ก แป็งเย็น ผงแป้ง ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEM และวิเคราะห์ธาตุด้วย EDS,EDX
เส้นผม วิเคราะห์เส้นผม เส้นขน
ผึ้ง มหัศจรรย์ผึ้งน้อย
จุลินทรีย์ คือสิ่งสิ่งมีชีวิตที่สายตาเปล่า คนเรามองไม่เห็น
วิเคราะห์เส้นใย สิ่งทอ เส้นไหม เส้นใยสังเคราะห์ ด้วยเครื่อง SEM
ข้าวหอมมะลิ วิเคราะห์หาแร่ธาตุด้วย SEM,EDS,EDX
ผงชูรส และผงปรุงรส วิเคราะห์แร่ธาตุด้วย SEM และ EDS
SEM,EDS เครื่องมือสำหรับ Failure Analysis วิเคราะห์ความเสียหายของวัสดุอุตสาหกรรม article
ภาพกระดาษชำระ ที่ไม่เคยเห็น
ส่องพระเครื่องพระผง แบบไฮเทค ว่าเป็นพระแท้ไม่แท้ ด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน
สิว วิเคราะห์สิวด้วยเครื่อง SEM และ EDS,EDX
ขนม ขนม ขนมปังปอนด์จ้า
ฟองน้ำ ฟองน้ำ
ความมหัศจรรย์ของหนวดหรือเคราฤาษี article
ผมมันชั่ว ผมมันเลว
ปากดีของคุณมดดำ article



Copyright © 2012-2017 All Rights Reserved.
SEM,SEM Services 24 hr.

บริษัท ธาราบิสสิเนส จำกัด Do SEM รับบริการเครื่อง SEM, EDS, SemAfore, Sputter Coater ทุกวันตลอด 24 ชั่วโมง ไม่มีวันหยุด
ที่อยู่ : 35/87 หมู่.2 ถนน : เลียบคลองสาม ตำบล :  คลองสาม อำเภอ : คลองหลวง
จังหวัด : ปทุมธานี      รหัสไปรษณีย์ : 12120    สถานที่ใกล้เคียง : ฟิวเจอร์ปาร์ครังสิต, ดรีมเวิล์ด, บิ๊กซีคลองสาม
เบอร์โทร :  0-2832-3687 (08.00-16.00น. จ-ศ) เบอร์โทรสาร :0-2832-3688    มือถือ :  09-6652-4569
Hotline : 09-6652-4569 ( 08.00-21.00น. ทุกวัน )
รับงานทุกวันไม่เว้นวันหยุด และวันหยุดนักขัตฤกษ์
อีเมล : dosem24hr@hotmail.com ; tarabusiness@hotmail.com
เว็บไซต์ : www.dosem24hr.com