SEM (Scanning Electron Microscope)และ EDS (Energy Dispersive X-ray) ,SemAfore, SPUTTER Coater
SEM กำลังขยายสูง สามารถดู SEI,BEI,COMPO,TOPO โหมด EDS Full Option พร้อมโปรแกรม SemAfore ดึงภาพดิจิตอล,วัดขนาด และเครื่องฉาบเคลือบทอง Sputter Coater
บริการ SEM,EDS,EDX,Sputter Coater ทุกวัน 24 ชั่วโมง www.dosem24hr.com
- SEM for Failure Analysis
** รายละเอียดไฟล์ PDF. เพิ่มเติมคลิก Jeol Scanning electron microscope JSM 5400.pdf
รายละเอียด :
SEM (Scanning Electron Microscope) JEOL
- Scanning electron microscope, SEM
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคป แบบส่องกราด SCANNING ELECTRON MICROSCOPE,SEM
ภาพที่ได้จากเครื่อง SEM
1.ภาพแบบ SEI (Secondary electron image)
- SEI Image
- Latex SEI Image
2.ภาพแบบ BEI (Backscattered electron image) 2.1 BEI ภาพแบบ COMPO (compositional mode) แยกความแตกต่างตาม atomic number, Z
- PbSn BEI COMPO Image 2
2.2 BEI ภาพแบบ TOPO (topographic) ภาพแบบมีมิติ,3มิติ
- PbSn BEI TOPO Image 2
2.3 BEI ภาพแบบ SHADOW (COMPO/TOPO+SHADOW)
- PbSn BEI COMPO +Shadows Image 2
- PbSn BEI TOPO +Shadows Image 2
SEM Mode ที่บริการ
1.ให้บริการเครื่อง SEM แบบ HV Mode (HV SEM , high vacuum mode)
2.ให้บริการเครื่อง SEM แบบ LV Mode (LV SEM , Low vacuum mode)
3.ให้บริการเครื่อง SEM แบบ HV Mode (HV SEM , high vacuum mode)พร้อมวิเคราะห์ธาตุเชิงปริมาณ/เชิงคุณภาพ
4.ให้บริการเครื่อง SEM แบบ LV Mode (LV SEM , Low vacuum mode)พร้อมวิเคราะห์ธาตุเชิงปริมาณ/เชิงคุณภาพ
* LV SEM หรือ Low vacuum เป็นศัพท์เทคนิคการใช้SEM ในโหมดสุญญากาศต่ำของ SEM ยี่ห้อ JEOL ส่วนศัพท์เทคนิค ของ SEMยี่ห้ออื่นๆจะมีศัพท์เทคนิคเช่น VP SEM, E SEM, EP SEM, N SEM, WET SEM การทำงานของเครื่องSEM จะเหมือนๆกัน สามารถดูตัวอย่างที่ไม่นำไฟฟ้าได้ ตัวอย่างมีความชื้นอยู่บ้างไม่มาก และเป็นการไม่ทำลายตัวอย่าง
- Filament แบบทังสเตน (W) K-Type
- กำลังขยาย X15 - X200,000 เท่า
- SEI Image resolution 3.5 nm.
- BEI Image resolution 4.5 nm. TOPO Mode, COMPO Mode,
- High Vacuum mode
- Low Vacuum mode (BEI)ไม่ต้อง coating ตัวอย่างก่อนเข้า SEM
EDS (Energy Dispersive X-Ray) OXFORD
- Detector Resolution 133 ev.
- วิเคราะห์ได้ตั้งแต่ B(โบรอน) - U(ยูเรเนียม)
- Detection limit 0.1 % สามารถวิเคราะห์ %ธาตุได้ตังแต่ 0.1%ขึ้นไป
- วิเคราะห์เชิงคุณภาพ Qualitative
- วิเคราะห์เชิงปริมาณ Quantitative
- Mapping และ Line scan แบบ Speed map
- Quant Mapping และQuant Line scan แบบ Quant
- Phase measurement
- Area Measurement
- Cameo
- Beam Track
- Auto Beam
EDS Services วิเคราะห์ะธาตุ เชิงปริมาณและเชิงคุณภาพ (Qualitative and Quantitative analysis) ตั้งแต่ธาตุ Bโบรอน- U ยูเรเนียม, Detection limit 0.1%
การวิเคราะห์เชิงปริมาณ Quantitative การวิเคราะเชิงปริมาณ Quantitative Analysis หาปริมาณ%ธาตุในตัวอย่าง, Element% ,Atomic%
- sem quant หาปริมาณ element%, atomic %
- Qualitative analysis
- sem quant , Quantitative analysis
- sem quant , Quantitative analysis
- sem quant , Quantitative analysis แบบกราฟแท่ง
- sem quant , Quantitative analysis
การวิเคราะเชิงคุณภาพ Qualitative Analysis สามารถวิเคราะห์ได้ตั้งแต่ธาตุ B ถึง U ตามตารางธาตุ Resolution 133 ev.
- Identify EDS peak
- X-ray spectrum copy
- spectrum printing
- EDS X-ray spectrum, Qualitative analysis
- spectrum zooming
วิเคราะห์แบบ Mapping ธรรมดา(Speed mapping)
วิเคราะห์แบบ Mapping (Speed maping) Speed maping ใช้เวลาทำ 2-5 นาที / ตำแหน่ง
Mix Mapping
- speed mapping
Speed mapping
- speed map 2
Mix Mapping
- speed mapping
การวิเคราะห์ธาตุ Line scan (speed Linescan)
การวิเคราะห์ธาตุ Line scan (speed linescan) Speed linescan ใช้เวลาทำ 2-5 นาที / ตำแหน่ง
- linescan mix รวม Linescan กับภาพ
Mix Linescan
- linescan mix , Element mix
- linescan mix 2 element with Autobeam image
- linescan mix, Line บนภาพ Autobeam
Speed Linescan
- ลากเส้นกำหนดตำแหน่งทำ linescan
Speed Linescan
- Speed line scan แกน Yจะบอกเป็น cts.(ไม่เหมือนQuant linescan บอกเป็น %element.)
Quant Mapping ใช้เวลาทำ 4-6 ชม. /ตำแหน่ง
* Mapping แบบ Speed map ใช้เวลาทำ 2-5 นาที / ตำแหน่ง
** ติดต่อเจ้าหน้าที่ขอรายละเอียดเพิ่มเติมกรณีทำ Quant Mapping ค๊ะ
- Quant mapping 1
- Quant mapping ระดับสีจะบอกถึง %element
Quant Line Scan
Quant Line Scan
- Quant line scan 1
- Quant line scan แกน Yจะบอกเป็น %element (ไม่เหมือนSpeed บอกเป็น cts.)
Quant Line Scan แบบ Mix
- Quant line scan mix1
- Quant line scan mix2
รูป Auto Beam แบบ 1 Point และ Area analysis
- auto beam แบบ Area
- auto beam แบบ Area 2
Auto Beam แบบกำหนดจุด 1 จุด
- point analysis / Autobeam 1 point
Muti point Analysis
Muti point Analysis (เชิงปริมาณ)
- Auto beam track, multi point, 6 point
- Auto beam track results เชิงปริมาณ
- sem quant เชิงปริมาณ, %element
Muti point Analysis (เชิงคุณภาพ)
Muti point Analysis (เชิงคุณภาพ)
- X-Ray analysis1
- Auto beam track spectrum 6 point
Muti point Analysis (เชิงปริมาณแบบหาค่าเฉลี่ย จากทุกจุดที่ยิง)
- Auto beam track แบบหาค่าเฉลี่ย 6 จุด
Area Measurement
- area measurement วัดหาพื้นที่ของภาพออกมาเป็น %
CAMEO Analysis
- CAMEO Analysis ,สีแดงย่าน kev ต่ำ ส่วนสีฟ้า kevสูง
- cameo
Phase Measurement
- Phase Measurement วัดเพสของตัวอย่างออกมาเป็น %
SemAfore Ver 5.0 JEOL
- ดึงภาพดิจิตอลไฟล์จากเครื่อง SEM เป็นไฟล์ .BMP, JPEG, PNG, TIFF และอื่นๆได้
- สามารถวัดขนาดตัวอย่างได้
- สามารถวัดพื้นที่ตัวอย่างได้
- สามารถวัดมุมตัวอย่างได้
- สามารถใส่Text บนตัวอย่างได้
- สามารถนับจำนวนตัวอย่างได้
SPUTTER COATER Fison VG Microtech
- สำหรับฉาบเคลือบทองบนผิวตัวอย่าง เพื่อให้นำไฟฟ้า ก่อนเข้าเครื่อง SEM ใช้อาร์กอนช่วยในการฉาบเฉลือบให้สมบูรณ์ยิ่งขึ้น
- สามารถลดความชื้นตัวอย่างที่มีความชื้นสูง ก่อนนำเข้า SEMได้
รายละเอียดทั่วไปการให้บริการ SEM /EDS /EDX (Do SEM ) Analysis
- การถ่ายภาพพื้นผิวชิ้นงานศึกษา ด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด SEM
- ใช้SEM ในการศึกษาสัณฐาน และรายละเอียดลักษณะพื้นผิวของตัวอย่าง
- ใช้SEM ในการศึกษาลักษณะพื้นผิวด้านนอกของเนื้อเยื่อและเซลล์
- ใช้SEM ในการศึกษาตัวอย่างด้านชีววิทยา, พยาธิวิทยา, เทคโนโยลีชีวภาพ
- ใช้SEM ในการศึกษาลักษณะพื้นผิวด้านนอกของหน้าตัดของโลหะและวัสดุต่างๆ
- ใช้SEM ในการศึกษาตัวอย่างร่วมการวิเคราะห์ธาตุเชิงปริมาณและเชิงคุณภาพด้วย EDS,EDX
- การใช้ SEM,EDS ตรวจสอบคุณสมบัติของวัสดุ
- การใช้ SEM,EDS วิเคราะห์รอยบกพร่องและคราบสกปรกของวัสดุ
- การใช้ SEM,EDS วิเคราะห์วัสดุที่นำมาเป็นบรรจุภัณฑ์ เช่นกระป่อง กล่อง ฝาจีบ ขวด
- การใช้ SEM,EDS วิเคราะห์เขม่าปืน, คราบเขม่าดินปืน
- การใช้ SEM,EDS วิเคราะห์ความเสียหายและการกัดกร่อนของวัสดุ
- การใช้ SEM,EDS วิเคราะห์วัสดุทางทันต์แพทย์, วัสดุทำฟัน จัดฟัน วิเคราะห์วัสดุทางการแพทย์
- Failure analysis การวิเคราะห์ความเสียหายวัสดุ ความเสียหายวัสดุอุตสาหกรรม ด้วยเครื่อง SEM,EDS
- วิเคราะห์ชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ IC Transistor Relay Semiconductor เซมิคอนดัคเตอร์ ชิ้นส่วนไฟฟ้าด้วย SEM,EDS
- ทดสอบวิเคราะห์ชิ้นส่วนยานยนต์ อะไหล่ยานยนต์ ชิ้นส่วนเครื่องจักรกล ชิ้นส่วนงานรถไฟ ด้วยเครื่อง SEM,EDS
- ทดสอบวิเคราะห์วัสดุก่อสร้าง ปูนซีเมนต์ อิฐมวลเบา อิฐต่างๆ หิน ดิน กรวด แร่ธาตุต่างๆ ด้วยเครื่อง SEM,EDS
- การวิเคราะห์องค์ประกอบเคมีของสารปนเปื้อนบนชิ้นงาน วัสดุ(contamination) ด้วยเครื่อง SEM,EDS
- การทดสอบวิเคราะห์ เหล็กหล่อ เหล็กกล้า รางรถไฟ ล้อแมกซ์ ผ้าเบรก ด้วยเครื่อง SEM,EDS
- การทดสอบวิเคราะห์ตัวอย่างลักษณะเป็นผงต่างๆ ผงแป้งต่างๆ ซิงค์ออกไซต์ Zinc oxide ด้วยเครื่อง SEM,EDS
- การทดสอบวิเคราะห์ Ceramics เซรามิคส์ เซรามิกส์ ด้วยเครื่อง SEM,EDS
- การทดสอบวิเคราะห์ polymer พอลิเมอร์ โพลิเมอร์ ยาง พลาสติก เม็ดยาง ยางพารา ยางรถ ด้วยเครื่อง SEM,EDS
- การทดสอบวิเคราะห์พระหล่อโบราณ พระเครื่อง พระเครื่องผง พระเครื่องเนื้อโลหะต่างๆ วัตถุโบราณ ด้วยเครื่อง SEM,EDS
- การทดสอบวิเคราะห์สิ่งทอ เส้นใย ผ้า ผ้าไหม ด้วยเครื่อง SEM,EDS
- การทดสอบวิเคราะห์ถ่ายภาพ PCB ลายปริ้น บอร์ดอิเล็กทรอนิกส์ คอมพิวเตอร์ ไฟเบอร์ Fiber ด้วยเครื่อง SEM,EDS
- การทดสอบวิเคราะห์ยา เคมีภัณฑ์ ด้วยเครื่อง SEM,EDS
*********************************************************************
บทความน่าสนใจอื่นๆ
สถานที่ให้และรับบริการ SEM,EDS : ใกล้ฟิวเจอร์รังสิต และดรีมเวิลด์
Do SEM บริการเครื่อง SEM กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคป แบบส่องกราด
บทความน่าสนใจอื่นๆ มากกว่า 100 บทความ คลิกลิงค์ข้างล่างค่ะ
##############################################################################
